成员动态 | 精测电子AR显示创新方案亮相！_最新动态

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成员动态 | 精测电子AR显示创新方案亮相！

2025-05-164

作为显示检测领域的领军者，CMMA理事单位精测电子携旗下AR显示创新方案及ICDT 2025 创新潜力奖产品重磅登陆，以硬核科技破解行业痛点！

滤镜式色度计

GI-NED-CF-151

小尺寸高分辨率镜头测量AR产品，解决与AR模组，projector系统及镜框干涉问题，以高分辨率高ppd成像，定义AR显示质量评估标准。

多点光谱增强色度计

GI-ISPM-MRGB-61

自主研发多点光纤阵列布局，支持15或25区域同步分块光谱测量，实现分块扫描。攻克面光谱测量及视角测量光谱偏移导致测量误差，为OLED/Micro-LED 颜色测量树立新标杆。

多视角光谱测量仪

GI-TVCM-03A

6~11个视角同步测量，提升产线显示设备色偏测量效率，降低色偏工段仪器采购成本。

3月斩获创新潜力奖的【面阵全彩亮度计GI-ICM-CP-151】，以“三通道成像+全兼容适配”双核技术强势登陆SID舞台！吸引显示领域专家和企业代表的广泛关注。

面阵全彩亮度计

GI-ICM-CP-151

核心技术点

a.三通道同步成像：独家3CMOS分光棱镜技术，红、绿、蓝三色传感器并行捕捉，成像速度提升至三倍，可以进行w画面进行Demura修复，产能提升100%，压缩产线设备到50%。

b. 全兼容智能适配：适配从5-inch phone尺寸到65-inch的LCD尺寸，曲面、折叠、异形屏一机通吃。

解决行业痛点

传统Mura检测与DeMura修复设备速度慢、精度低，面对高PPI超密像素和柔性异形屏束手无策。

精测电子将依托系统级制程检测和良率管理解决方案，持续深化技术创新，推动显示领域高标准新发展。